数字源表测电导率

普赛斯仪表S型源表能否测电导率？
①可以的，使用其四线测量模式；
②四探针测试时一般是恒流测电压，而所加的电流一般在mA级，所以对线缆基本没有要求
 
 电阻率是决定半导体材料电学特性的重要参数，为了表征工艺质量以及材料的掺杂情况，需要测试材料的电阻率。半导体材料电阻率测试方法有很多种，其中四探针法具有设备简单、操作方便、测量精度高以及对样品形状无严格要求的特点。因此，目前检测半导体材料电阻率，尤其对于薄膜样品来说，四探针是较常用的方法。

四探针测试原理
四探针技术要求使用四根探针等间距的接触到材料表面。在外边两根探针之间输出电流的同时，测试中间两根探针的电压差。最后，电阻率通过样品的几何参数，输出电流源和测到的电压值来计算得出。四探针法测量半导体电阻率测试方案，使用普赛斯仪表*的高精度S型源表，既可以在输出电流时测试电压，也可以在输出电压时测试电流。输出电流范围从皮安级到安培级可控，测量电压分辨率高达微伏级。支持四线开尔文模式，因此适用于四探针测试，可以简化测试连接，得到准确的测试结果。  


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普赛斯源表功能：J确提供四象限电压或电流，并同步测量电流和电压；可以实现电源、万用表、电子负载、电源/测量组合功能；
 
用途：J确提供和测量电压和/或电流，广泛应用于各种电器特性参数测试中，如IV扫描；
 
普赛斯源表优势：四象限工作，源和负载；电压及电流范围广，电流100pA~1A，电压0.3mV~300V，准确度为0.1%；5寸触摸显示屏图形化操作，内置强大的功能软件，加速用户完成测试；支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网；
 
额外功能（软件实现的）：二极管IV扫描及参数分析、三极管IV扫描及参数分析、LIV测试系统、太阳能电池放电测试系统、电池充放电循环系统等；
 
普赛斯源表应用领域：分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC等；能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等；传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等；**材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等；纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等；
 
普赛斯源表应用方案：二极管IV测试、激光二极管LIV测试、三极管MOS管IV测试、APD管IV测试、太阳能电池板特性参数测试、电池充放电特性参数测试、电化学循环伏安测试；
 
普赛斯源表替代方案：吉时利2400/2450、是德B2901

普赛斯数字源表应用优势：

1、多功能测量需求下的广泛的适应性，电压高300V，电流低至100pA；

2、实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率。

3、具备对测试器件的保护功能，可进行自我限制，避免因过充而造成的对测试器件的损害；J确的电压电流限制功能，为器件提供完善的保护功能，避免器件损坏。

4、触屏图形化操作，使用简单。开放式平台，可根据实际应用的需求而针对性的开发软件。