四探针测试高精度源表

电阻率是决定半导体材料电学特性的重要参数，为了表征工艺质量以及材料的掺杂情况，需要测试材料的电阻率。半导体材料电阻率测试方法有很多种，其中四探针法具有设备简单、操作方便、测量精度高以及对样品形状无严格要求的特点。因此，目前检测半导体材料电阻率，尤其对于薄膜样品来说，四探针是较常用的方法。


普赛斯仪表S型源表能否直接进行四探针测试？对线缆要求？
①可以的，使用其四线测量模式；
②四探针测试时一般是恒流测电压，而所加的电流一般在mA级，所以对线缆基本没有要求


四探针测试原理

四探针技术要求使用四根探针等间距的接触到材料表面。在外边两根探针之间输出电流的同时，测试中间两根探针的电压差。最后，电阻率通过样品的几何参数，输出电流源和测到的电压值来计算得出。四探针法测量半导体电阻率测试方案，使用普赛斯仪表*的高精度S型源表，既可以在输出电流时测试电压，也可以在输出电压时测试电流。输出电流范围从皮安级到安培级可控，测量电压分辨率高达微伏级。支持四线开尔文模式，因此适用于四探针测试，可以简化测试连接，得到准确的测试结果。  


四探针测试高精度源表找普赛斯仪表，普赛斯数字源表国产*，对标美国2400，B2901；可实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率；支持四象限工作，测量范围广，电压高至300V，电流低至100pA；支持USB存储，一键导出数据报告；5寸触摸显示屏图形化操作，内置强大的功能软件，加速用户完成测试；支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网；详情请联系普赛斯仪表销售专员为您解答一八一四零六六三四七六