纳米材料电性能测试IV源表

源表特点：
多功能：可作源和负载，又能测；
高效率：满足多种测试需求；
可编程控制：高精度可调，灵活控制；
IV扫描：快速、直观显示，一步操作。

应用领域：
分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC、GaN等器件；
能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等
传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等
**材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等
纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等

测试功能：
微电路
1	晶圆	L-IV测试，输入曲线、输出曲线
2	芯片	L-IV测试，输入曲线、输出曲线
器件
1	二极管	正向导通电压、正向电流、反向击穿电压、反向漏电流
2	三极管	L-IV测试，输入曲线、输出曲线
3	MOSFET	L-IV测试，输入曲线、输出曲线
4	IGBT	L-IV测试，输出曲线、转移曲线
5	晶闸管	正向电压电流曲线、反向电压电流曲线、触发特性
电池
1	锂电池	IV测试，充放电扫描曲线
2	光伏电池	IV测试，放电扫描曲线
材料
1	石墨烯	IV测试、输入曲线、输出曲线
2	纳米线	IV测试、输入曲线、输出曲线
    
S系列源表特点：
1、5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作 
2、内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV
3、源及测量的准确度为0.1%，分辨率5数位
4、四象限工作（源和肼），源及测量范围：电流100pA~1A，电压0.3mV~300V
5、丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描
6、支持USB存储，一键导出测试报告
7、支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网
S系列源表参数：
源限度	电压源: +30V (≤1A量程) , +300V (≤100mA量程) ;
电流源	士1.05A(≤30V量程)，+105mA (≤300V量程) ;
过量程	105%量程,源和测量;
稳定负载电容	<22nF ;
宽带噪声(20MHz)	2mVRMS(典型值)，<20mVVp-p(典型值);
线缆保护电压	输出阻抗1K9 ,输出电压偏移<80uV ;
较大采样速率	1000采样点/秒;
触发	支持IO触发输入及输出,触发极性可配置;
输出接口	前后面板香蕉头插座输出,同- -时刻只能用前或者后面板接口;
通信口	RS-232、GPIB、 以太网;
电源	AC 100~ 240V 50/60Hz ;
工作环境	25+10°C ;
尺寸	106mm高x 255mm宽x 425mm长;
重量	5Kg ;
质保期	3年;

纳米材料电性能测试IV源表*普赛斯仪表，详情请联系普赛斯仪表销售专员为您解答一八一四零六六三四七六

国产优势
1、*，符合大环境下国内技术自给的需求；
2、性价比高；
3、可及时与客户沟通，为客户提供高性价比系统解决方案。及时指导客户编程，加速测试系统开发。
常见答疑：
1、 为什么你们的测量精度比不上进口产品？
0.1%精度已能满足绝大部分行业应用，具有更高的性价比。普赛斯仪表也在研发更高精度的源表，不过价格会稍高。
2、 通道数量所体现的具体产品差异是什么？
对于很多芯片而言，往往需要多个通道的源表进行测试。集成多个通道有利于减少系统体积、减少开发难度。目前普赛斯仪表台式源表仅提供单通道。但插卡式源表可实现多通道。
3、 普通源表与插卡式源表的具体异同？
插卡式源表是一种无触屏显示的、由多种源表子卡组成的组合式仪表。子卡功能与台式源表功能基本一致，子卡必须在特定的主机内才能工作。插卡式源表由上位机控制，具有单位体积内通道密度更高、可根据实际情况自由组合源表子卡等特点，较高可支持达40通道。目前已规划单卡单通道和单卡4通道源表子卡。
4、关于软件
S系列软件，兼容2400和2450，对使用2400和2450搭建的已有测试系统，可以实现替换，而*修改测试系统软件。
5、关于测试搭建
简易测试连接电极直接测试，其它要求可采取与探针台，测试机配套使用。